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主要特色：
Chroma 19501-K 局部放電測試器結合高電壓耐壓測試與局部放電(Partial Discharge)偵測功能於一單機，提供交流電壓輸出大10kV，漏電流量測範圍從0.01uA~300uA，局部放電偵測範圍小可偵測1pC放電量，針對高壓半導體元件及高絕緣材料測試應用所開發(fā)。產品設計符合IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規(guī)要求，同時內建IEC 60747-5-5法規(guī)之測試方法在儀器內部，滿足光耦合器產品生產測試需求，並提供給使用者一個便利操作介面.
在生產線上執(zhí)行高壓測試時，如果被測物未能正確及良好連接測試線，將導致測試結果失敗甚至是漏測的風險。因此，在測試前確保被測物與測試線良好連接是非常重要的。Chroma 獨特之HVCC高壓接觸檢查功能(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件於高壓輸出時同步進行接觸檢查，提升其測試可靠度與效率。
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